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ASTM B568-2014X射線熒光分析測厚儀
摘要：ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù)，該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。 |
一、意義和用途
1.這是一種靈敏，非接觸和非破壞性的方法，用于測量金屬和一些非金屬涂層的涂層厚度（在某些情況下，涂層成分），厚度范圍從0.01微米到75微米不等，具體取決于涂層和基底材料。它可用于測量不易通過其他技術(shù)測量的涂層和堿組合。
2.涂層厚度是使用中涂層性能的重要因素。
二、范圍
1.該試驗(yàn)方法包括使用X射線光譜法測定金屬和一些非金屬涂層的厚度。
2.給定涂層的最大可測量厚度是厚度，超過該厚度，來自涂層或基板的特征二次X輻射的強(qiáng)度不再對(duì)厚度的微小變化敏感。
3.該測試方法測量每單位面積的涂層質(zhì)量，如果已知涂層的密度，也可以用線性厚度單位表示。
4.本試驗(yàn)方法不包括人員防止X射線管產(chǎn)生的輻射或放射性同位素源發(fā)出的問題。有關(guān)這一重要方面的信息，應(yīng)參考國家輻射防護(hù)和測量委員會(huì)，聯(lián)邦登記處，核管理委員會(huì)，國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（原國家標(biāo)準(zhǔn)局）的現(xiàn)有文件，并說明和如果存在，則為本地代碼。
5.本標(biāo)準(zhǔn)無意解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有的話）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐，并在使用前確定法規(guī)限制的適用性。
X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優(yōu)越,而且價(jià)格優(yōu)惠。分析鍍層厚度和元素成份同時(shí)進(jìn)行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實(shí)用，準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首要選擇。
Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。
ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點(diǎn)：
ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù)，該技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。
產(chǎn)品功能：
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
2. 鍍層層數(shù)：多至5層。
3. 測量點(diǎn)尺寸：圓形測量點(diǎn)，直徑約0.2-0.8毫米。
4. 測量時(shí)間：通常35秒-180秒。
5. 樣品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
8. 同時(shí)定量測量8個(gè)元素。
9. 定性鑒定材料達(dá)20個(gè)元素。
產(chǎn)品參數(shù)：
· X射線光管 微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm
· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化
· 探測器 高分辨氣體正比計(jì)數(shù)探測器
· 準(zhǔn)直器 單一固定準(zhǔn)直器直徑0.3mm
· 樣品倉 330 x 200 x 170 mm
· 樣品臺(tái) 手動(dòng)Z軸樣品臺(tái)
· 電源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W
· 儀器尺寸 350 x 420 x 310 mm
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