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EIAJED-4701半導體靜電放電發(fā)生器
摘要：EIAJED-4701-001半導體器件環(huán)境和耐久性試驗方法，其中規(guī)定了靜電放電發(fā)生器對半導體電子元件的抗擾度測試方法和結果判定，澳騰斯生產(chǎn)的靜電放電發(fā)生器即可符合此標準。 |
除了EIAJED-4701-001半導體器件環(huán)境和耐久性試驗方法，澳騰斯靜電放電發(fā)生器也符合國家軍用標準GJB548A-96方法3015、國家軍用標準GJB128A-97方法1020、MIL-STD-883D、EIAJED-4701。
一、試驗的實施
靜電放電發(fā)生器試驗應按照試驗計劃,采用對受試設備直接和間接放電的方式進行。它包括:
——受試設備典型工作條件；
——受試設備是按臺式設備還是按落地式設備進行試驗；
——確定施加放電點；
——在每個點上，是采用接觸放電還是空氣放電；
——所使用的試驗等級；
——符合性試驗中在每個點上施加的放電次數(shù)；
——是否還進行安裝后的試驗。
為了制定試驗計劃,可能需要進行某種調查性試驗。
二、試驗結果和試驗報告
給出了對本標準有關的靜電放電發(fā)生器的試驗結果的評價和試驗報告的指導性原則。
由于受試設備和系統(tǒng)的多樣性和差異性,使得確定試驗對設備和系統(tǒng)的影響變得比較困難。
若專業(yè)標準化技術委員會或產(chǎn)品技術規(guī)范沒有給出不同的技術要求,試驗緒果應該按受試設備的
運行條件和功能規(guī)范進行如下分類:
1.在技術要求限值內的性能正常；
2.功能或性能暫時降低或喪失,但能自行恢復；
3.功能或性能暫時降低或喪失,但要求操作人員干預或系統(tǒng)復位；
4.因設備(元件)或軟件的損壞或數(shù)據(jù)的丟失而造成不能自行恢復至正常狀態(tài)的功能降低或喪失。
設備不應由于進行本標準規(guī)定的試驗而出現(xiàn)危險或不安全的后果。
驗收試驗時,試驗程序和試驗結果的說明必須在專門的產(chǎn)品標準中加以描述。
一般地,如果設備在整個試驗期間顯示其抗干擾度,并且在試驗結束后,受試設備滿足技術規(guī)范中的功能要求，則表明試驗合格。
人體對物體或兩個物體之間產(chǎn)生的靜電，可能引起電氣，電子設備的電路發(fā)生故障，甚至被損壞。所以，模擬靜電放電的測試在全世界范圍內廣泛地應用。靜電放電發(fā)生器 (ESD Generator) 或叫靜電放電模擬器(ESD Simulator)，俗稱靜電放電槍(ESD gun)是電磁兼容測量與試驗中靜電放電抗擾度(ESD immunity)試驗中的重要設備。目的是為了檢驗電子設備受到外來靜電放電時能否正常工作。
依據(jù)標準：IEC61000-4-2和GB/T17626.2
主要技術參數(shù)：
1、輸出電壓：0.1～20.0Kv±3％
2、電壓極性：正或負
3、觸發(fā)模式：SINGLE單次；COUNT按設定的放電次數(shù)放電；20pps20次／秒；
4、測試功能：內置IEC等級，
5、 放電模式：接觸或氣隙；放電間隔：0.05～9.99s(當20pps模式下，放電間隔為0.05s)
6、 計數(shù)器：1～9999(用于放電次數(shù)計數(shù))
7、 放電電容：150Pf±10％（特殊要求可定制）
8、 放電電阻：330Ω±10％（特殊要求可定制）
9、放電電極：圓錐形接觸放電電極及球形氣隙放電電極
10、 使用環(huán)境：環(huán)境溫度：10℃～35℃ 相對濕度：30％～60％
11、 電源：單相AC85～265V，50／60Hz
12、 重量：約4kg
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