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GB/T 16921-2005鍍層厚度測試儀
摘要：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法。本標(biāo)準(zhǔn)所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度，則測量結(jié)果也可用覆蓋層的線性厚度表示。 |
操作機(jī)理：
覆蓋層單位面積質(zhì)量（若謎底已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。對于任何實際的儀器系統(tǒng)，該關(guān)系首先已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。
熒光強(qiáng)度是元素原子序數(shù)的函數(shù)，如果表面覆蓋層、中間覆蓋層（如果存在）以及基體是由不同元素組成或一個覆蓋層由不止一個元素組成，則這些元素會產(chǎn)生各自的輻射特征?？烧{(diào)節(jié)適當(dāng)?shù)臋z測器系統(tǒng)以選擇一個或多個能帶，使此設(shè)備既能測量表面覆蓋層又能同時測量表面覆蓋層和一些中間覆蓋層的厚度和組成。
測試報告應(yīng)包括下列內(nèi)容：
1.本標(biāo)準(zhǔn)的編號；
2.試樣的準(zhǔn)確標(biāo)識；
3.測量日期；
4.試樣上測量位置；
5.平均每份報告的測量次數(shù)；
6.如果兩尺寸不同，要標(biāo)明準(zhǔn)直器孔徑和測量面積大小；
7.測量數(shù)值；
8. 用于厚度計算的密度值及使用理由；
9.報告的測量值具有代表性的標(biāo)準(zhǔn)偏差；
10.與本標(biāo)準(zhǔn)方法的差別:
11.可能影響報告結(jié)果解釋的因素:
12.實驗室名稱和操作者姓名；
13.最近期的校準(zhǔn)證書或其他可接受的參考標(biāo)準(zhǔn)塊的使用及溯源。
X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優(yōu)越,而且價格優(yōu)惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進(jìn)行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首要選擇。
Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。
ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點：
ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù)，該技術(shù)已經(jīng)被證實并且得到廣泛應(yīng)用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。
產(chǎn)品功能：
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
2. 鍍層層數(shù)：多至5層。
3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。
4. 測量時間：通常35秒-180秒。
5. 樣品最大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
8. 同時定量測量8個元素。
9. 定性鑒定材料達(dá)20個元素。
產(chǎn)品參數(shù)：
· X射線光管 微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm
· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化
· 探測器 高分辨氣體正比計數(shù)探測器
· 準(zhǔn)直器 單一固定準(zhǔn)直器直徑0.3mm
· 樣品倉 330 x 200 x 170 mm
· 樣品臺 手動Z軸樣品臺
· 電源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W
· 儀器尺寸 350 x 420 x 310 mm
本文出自東莞市澳騰斯儀器有限公司，轉(zhuǎn)載請注明出處！更多澳騰斯地板類檢測設(shè)備相關(guān)資訊請訪問：modelisto.cn
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