鍍層測(cè)厚儀使用方法及使用注意事項(xiàng)?
摘要:鍍層測(cè)厚儀測(cè)量方便快捷,無(wú)需液氮,無(wú)需樣品前處理。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)。 |
鍍層測(cè)厚儀是由于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精 確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離。接下來(lái)了解一下鍍層測(cè)厚儀使用方法及使用注意事項(xiàng)。
鍍層測(cè)厚儀的正確使用方法:
一,打開電源觀察菜單。當(dāng)你打開電源之后,你會(huì)觀察到顯示屏上面的菜單。這個(gè)時(shí)候,我們需要對(duì)它選擇一定的模式,測(cè)量模式主要分為F或者NF。接著你對(duì)選擇功能表進(jìn)行一定的點(diǎn)擊,再設(shè)置校準(zhǔn)方法。有的時(shí)候,我們需要把一種測(cè)量方法轉(zhuǎn)化為另外一種測(cè)量方法。我們還可以通過(guò)屏幕上的提示來(lái)進(jìn)行一定的選擇。
二,校準(zhǔn)。校準(zhǔn),在測(cè)量的過(guò)程中是一種必須要會(huì)的方法。我們需要選擇一個(gè)有鍍層的金屬構(gòu)件,然后把一個(gè)比較后的foil放置在金屬的表面,這個(gè)時(shí)候我們?cè)侔彦儗訙y(cè)量?jī)x的探頭垂直地放在foil的上面。仔細(xì)觀察的話,你會(huì)發(fā)現(xiàn)屏幕上會(huì)顯示foil的厚度數(shù)據(jù)。
三,再校準(zhǔn)。你需要找到一個(gè)沒(méi)有foil鍍層的金屬,再對(duì)上一進(jìn)行一定的重復(fù),也就是再次把探頭放在物體的表面,然后再修正數(shù)據(jù),目的是保持它的值跟foil保持一致。到這一之后,你的校準(zhǔn)工作就已經(jīng)全部完成了。
四,測(cè)量數(shù)據(jù)。該鍍層測(cè)厚儀在對(duì)物體的鍍層進(jìn)行測(cè)量之前,好是先在統(tǒng)計(jì)表上選擇統(tǒng)計(jì)。這樣之后,你會(huì)發(fā)現(xiàn)所顯示的新數(shù)據(jù)就是后一次的讀數(shù),任何一次得到的讀數(shù)都會(huì)進(jìn)行自動(dòng)的統(tǒng)計(jì),假如測(cè)量的并不是某一點(diǎn)的鍍層厚度,就會(huì)記錄后的平均值。
膜厚儀Star II 應(yīng)用場(chǎng)景
>鍍層測(cè)厚儀測(cè)量的對(duì)象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學(xué)生成膜等
>可測(cè)量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度
>鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品
>鋼上鋅等防腐涂層
>貴金屬成分分析,貴金屬鍍層,如金基上的銠材料分析
>分析硬質(zhì)材料涂層,例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能,電鍍液離子濃度分析
膜厚儀Star II 產(chǎn)品特點(diǎn)
>超大樣品腔
>一鍵測(cè)試,一鍵打印報(bào)告
>與其他軟件的無(wú)縫集成使其能夠輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù),兼容LIMS數(shù)據(jù)庫(kù)
>經(jīng)久耐用,在充滿考驗(yàn)的生產(chǎn)或?qū)嶒?yàn)室環(huán)境中使用壽命長(zhǎng)
膜厚儀Star II 可分析的常見鍍層材料
鍍層測(cè)厚儀可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如可檢測(cè)鐵鍍鎳、銅鍍鎳、鐵鍍鉻、銅鍍錫、銅鍍金、銅鍍銀等單鍍層的厚度和元素成分
多涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Cu/Fe鐵鍍銅鍍鎳,Au/Ni/Cu銅鍍鎳鍍金,Sn/Ni/Cu銅鍍鎳鍍錫等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe鐵鍍鎳鋅合金, ZnAl/Ni/Cu銅鍍鎳鍍鋁鋅合金等
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