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熒光鍍層測厚儀的使用方法講解
摘要：熒光鍍層測厚儀測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行精準檢測。 |
熒光鍍層測厚儀的使用方法主要有五種，分別是磁性測厚法、渦流測厚法、超聲波測厚法、電解測厚法、放射測厚法。熒光鍍層測厚儀的每種使用方法，都有其自身獨特的優(yōu)勢。
1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測量精度高
2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種方法較磁性測厚法精度低。
3.超聲波測厚法:目前國內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的，國外個別廠家有這樣的儀器，適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但一般價格昂貴\測量精度也不高。
4.電解測厚法:此方法有別于以上三種，不屬于無損檢測，需要破壞涂鍍層。一般精度也不高。測量起來較其他幾種麻煩。
5.放射測厚法:此種儀器價格非常昂貴(一般在10萬rmb以上)，適用于一些特殊場合。
膜厚儀Star II 應用場景
>熒光鍍層測厚儀測量的對象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學生成膜等
>可測量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度
>鍍鉻，例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品
>鋼上鋅等防腐涂層
>貴金屬成分分析，貴金屬鍍層，如金基上的銠材料分析
>分析硬質材料涂層，例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能，電鍍液離子濃度分析
膜厚儀Star II 產品特點
>超大樣品腔
>一鍵測試，一鍵打印報告
>與其他軟件的無縫集成使其能夠輕松導出數據，兼容LIMS數據庫
>經久耐用，在充滿考驗的生產或實驗室環(huán)境中使用壽命長
膜厚儀Star II 可分析的常見鍍層材料
熒光鍍層測厚儀可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應用：如可檢測鐵鍍鎳、銅鍍鎳、鐵鍍鉻、銅鍍錫、銅鍍金、銅鍍銀等單鍍層的厚度和元素成分
多涂鍍層應用：如Ni/Cu/Fe鐵鍍銅鍍鎳，Au/Ni/Cu銅鍍鎳鍍金，Sn/Ni/Cu銅鍍鎳鍍錫等
合金鍍層應用：如ZnNi/Fe鐵鍍鎳鋅合金, ZnAl/Ni/Cu銅鍍鎳鍍鋁鋅合金等
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