GB/T 15717-2021鍍層測(cè)厚儀
摘要:GB/T 15717-2021真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法 電阻法代替了GB/T 15717-1995。是目前蕞新版的金屬鍍層厚度測(cè)試方法。我司德國(guó)進(jìn)口的鍍層測(cè)厚儀即符合此標(biāo)準(zhǔn)。 |
GB/T 15717-2021文件規(guī)定了采用電阻法測(cè)試絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的試驗(yàn)原理、試驗(yàn)裝置、試樣制備、試驗(yàn)步驟、試驗(yàn)結(jié)果的計(jì)算和表示,以及試驗(yàn)報(bào)告。適用于絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的測(cè)量。
試驗(yàn)裝置:
本試驗(yàn)使用真空金屬鍍層厚度測(cè)量裝置,其結(jié)構(gòu)如標(biāo)準(zhǔn)中所示。測(cè)量裝置的電阻測(cè)量誤差為±1%測(cè)量裝置寬度不小于100mm,兩測(cè)量頭間的距離精度為±0.1mm;測(cè)量頭的厚度為10mm,宜為銅材質(zhì),也可以是其他導(dǎo)電率較好的材質(zhì)(其他材質(zhì)與銅材質(zhì)測(cè)量頭所測(cè)的數(shù)據(jù)不可比較);橡膠板厚度不小于3mm,邵爾A硬度為70~80,表面應(yīng)平整光滑;宜采用氣源壓力位0.5MPa~MPa的氣動(dòng)壓緊方式。
試驗(yàn)步驟:
1、按GB/T 2918規(guī)定將金屬鍍層測(cè)量?jī)x與試樣放置在23℃±3℃,相對(duì)濕度50%±10%相對(duì)濕度環(huán)境中,4h后在同等環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。
2、每次測(cè)量前用無(wú)水乙醇擦拭儀器的測(cè)量頭,確保將粘附在測(cè)量頭上的金屬鍍層碎屑清除干凈。
3、將試樣平放在測(cè)量?jī)x的橡膠板上,使測(cè)量頭與金屬鍍層接觸良好。
4、沿試樣長(zhǎng)度方向,距邊緣20mm處測(cè)量5片試樣,每片試樣測(cè)量一次,記錄每次測(cè)量的電阻值。
膜厚儀Star II 應(yīng)用場(chǎng)景
>鍍層測(cè)厚儀測(cè)量的對(duì)象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學(xué)生成膜等
>可測(cè)量離子鍍、電鍍、蒸鍍、等各種金屬鍍層的厚度
>鍍鉻,例如帶有裝飾性鍍鉻飾面的塑料制品
>鋼上鋅等防腐涂層
>貴金屬成分分析,貴金屬鍍層,如金基上的銠材料分析
>分析硬質(zhì)材料涂層,例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能,電鍍液離子濃度分析
膜厚儀Star II 產(chǎn)品特點(diǎn)
>超大樣品腔
>一鍵測(cè)試,一鍵打印報(bào)告
>與其他軟件的無(wú)縫集成使其能夠輕松導(dǎo)出數(shù)據(jù),兼容LIMS數(shù)據(jù)庫(kù)
>經(jīng)久耐用,在充滿考驗(yàn)的生產(chǎn)或?qū)嶒?yàn)室環(huán)境中使用壽命長(zhǎng)
膜厚儀Star II 可分析的常見鍍層材料
鍍層測(cè)厚儀可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用:如可檢測(cè)鐵鍍鎳、銅鍍鎳、鐵鍍鉻、銅鍍錫、銅鍍金、銅鍍銀等單鍍層的厚度和元素成分
多涂鍍層應(yīng)用:如Ni/Cu/Fe鐵鍍銅鍍鎳,Au/Ni/Cu銅鍍鎳鍍金,Sn/Ni/Cu銅鍍鎳鍍錫等
合金鍍層應(yīng)用:如ZnNi/Fe鐵鍍鎳鋅合金, ZnAl/Ni/Cu銅鍍鎳鍍鋁鋅合金等
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