ISO3497-2000X射線熒光分析測厚儀
摘要:ISO(國際標(biāo)準(zhǔn)化組織)是一個由國家標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)(ISO成員機(jī)構(gòu))組成的世界性聯(lián)合會。編制國際標(biāo)準(zhǔn)的工作通常是通過ISO技術(shù)委員會進(jìn)行的。本標(biāo)準(zhǔn)為第三版取消并替換第二版(ISO 3497-1990)。X熒光射線鍍層測厚儀便符合此項標(biāo)準(zhǔn)。 |
ISO3497-2000金屬鍍層 鍍層厚度的測量 X射線光譜測定法。
試驗基礎(chǔ):
涂層單位面積的質(zhì)量(如果密度已知,則為線性涂層厚度)與二次輻射強(qiáng)度之間存在關(guān)系。對于任何實際的儀器系統(tǒng),這種關(guān)系首先是通過使用單位面積具有已知質(zhì)量涂層的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)來建立的。如果已知涂層材料密度,則此類標(biāo)準(zhǔn)可以以線性厚度單位給出涂層,前提是也給出了實際密度值。
注:涂層材料密度是涂層的密度,X射線熒光鍍層測厚儀在測量時可能是也可能不是涂層材料的理論密度。如果該密度與校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的密度不同,則應(yīng)使用反映該差異的系數(shù)并記錄在試驗報告中。
熒光強(qiáng)度是元素原子序數(shù)的函數(shù)。如果頂涂層、中間涂層(如果有)和基底由不同的元素組成或涂層由多個元素組成,則這些元素將為每個元素產(chǎn)生輻射特性。一個合適的探測器系統(tǒng)可以調(diào)整以選擇一個或多個能帶,使設(shè)備能夠同時測量頂部涂層或頂部和一些中間涂層的厚度和/或成分。
試驗報告應(yīng)包括以下信息:
1、參考本國際標(biāo)準(zhǔn),即ISO 3497;
2、明確鑒定試樣;
3、測量日期;
4、試樣上的測量位置;
5、每次報告測量的平均測量次數(shù);
6、準(zhǔn)直器孔徑大小和測量區(qū)域大?。ㄈ绻煌?;
7、測量值;
8、用于厚度計算的密度和所用值的合理性;
9、代表報告測量值的標(biāo)準(zhǔn)偏差;
10、與本ISO試驗方法的任何偏差;
11、可能影響報告結(jié)果解釋的任何因素;
12、操作人員和檢測實驗室的名稱;
13、所用校準(zhǔn)或其他可接受參考標(biāo)準(zhǔn)的蕞新認(rèn)證日期及其可追溯性。
X射線熒光分析測厚儀能提供:鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優(yōu)越,而且價格優(yōu)惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進(jìn)行,只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首要選擇。
Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。
ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點:
ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術(shù),該技術(shù)已經(jīng)被證實并且得到廣泛應(yīng)用,可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體,元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92,并且具有不同大小的樣品艙。
產(chǎn)品參數(shù):
· X射線光管 微聚焦,高性能,鎢靶,焦斑尺寸0.2-0.8mm
· 高電壓 50千伏(1.2毫安)可根據(jù)軟件控制優(yōu)化
· 探測器 高分辨氣體正比計數(shù)探測器
· 準(zhǔn)直器 單一固定準(zhǔn)直器直徑0.3mm
· 樣品倉 330 x 200 x 170 mm
· 樣品臺 手動Z軸樣品臺
· 電源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W
· 儀器尺寸 350 x 420 x 310 mm
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